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  1. Detailansicht für Treffer 61 öffnen
    Educational and psychological measurement
    Thousand Oaks, CA: Sage Publications, 1941-
    Online Zeitschrift, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    EZB-NALIW-00495 Sage Journals Komplett AL [Available from 1941 volume: 1.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    EZB-NALJC-00505 Sage Journals Archiv NL [Available from 1941 volume: 1. Most recent 2 year(s) not available.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  2. Detailansicht für Treffer 62 öffnen
    White Book - Non-Life Insurance: Analysis of 2002 10-K Reserve Hindsight Tests
    Sanford C. Bernstein & Co., LLC, 2003
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    EBSCOhost Business Source Ultimate [Available from 01/06/2003 until 30/06/2003.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  3. Detailansicht für Treffer 63 öffnen
    Aehr Test Systems MarketLine Company Profile
    MarketLine, a Progressive Digital Media business, 2014-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    EBSCOhost Business Source Ultimate [Available from 19/11/2014.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  4. Detailansicht für Treffer 64 öffnen
    Test Rite International Co., Ltd. MarketLine Company Profile
    MarketLine, a Progressive Digital Media business, 2014-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    EBSCOhost Business Source Ultimate [Available from 30/07/2014.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  5. Detailansicht für Treffer 65 öffnen
    India (ITC India), IEEE International Test Conference
    IEEE, 2019-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2019.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2019.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  6. Detailansicht für Treffer 66 öffnen
    Design & Test of Integrated Micro & Nano-Systems (DTS), IEEE International Conference on
    IEEE, 2019-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2019.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2019.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  7. Detailansicht für Treffer 67 öffnen
    Design, Test, Integration and Packaging of MEMS/MOEMS, Symposium on
    IEEE, 2003-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2003.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2003.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  8. Detailansicht für Treffer 68 öffnen
    Validation, Analysis and Evolution of Software Tests (VST), IEEE Workshop on
    IEEE, 2018-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2018.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2018.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  9. Detailansicht für Treffer 69 öffnen
    European Test Conference
    IEEE, 1989-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 1989.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 1989.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  10. Detailansicht für Treffer 70 öffnen
    Design and Test of Nano Devices, Circuits and Systems (NDCS), IEEE International Workshop on
    IEEE, 2008-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2008.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2008.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  11. Detailansicht für Treffer 71 öffnen
    Electronic Design, Test and Applications (DELTA), IEEE International Workshop on
    IEEE, 2002-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2002.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2002.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  12. Detailansicht für Treffer 72 öffnen
    Test Workshop, ATW, Annual Atlantic
    IEEE, 1994-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 1994.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 1994.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  13. Detailansicht für Treffer 73 öffnen
    VLSI Design and Test (VDAT), International Symposium on
    IEEE, 2014-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2014.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2014.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  14. Detailansicht für Treffer 74 öffnen
    Mixed-Signals, Sensors, and Systems Test Workshop, IMS3TW, IEEE International
    IEEE, 2008-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2008.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 2008.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  15. Detailansicht für Treffer 75 öffnen
    Test Conference in Asia (ITC-Asia), International
    IEEE, 2017-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 2017.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  16. Detailansicht für Treffer 76 öffnen
    Economics of Design, Test, and Manufacturing, Proceedings., International Conference on the
    IEEE, 1994-
    Online Zeitschrift
    Zugriff:
    IEEE Electronic Library (IEL) [Available from 1994.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
    IEEE Electronic Library (IEL) Conference Series [Available from 1994.; Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)

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