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707 Treffer

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    2019 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test: 22-25 April 2019, Hsinchu, Taiwan
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, New Jersey: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  2. Detailansicht für Treffer 82 öffnen
    2019 20th International Workshop on Microprocessor/SoC Test, Security and Verification (MTV)
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, NJ: IEEE, 2019
    Online Bibliografie, Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  3. Detailansicht für Treffer 83 öffnen
    2019 IEEE International Conference on Computation, Communication and Engineering (ICCCE 2019): 8-10 November 2019, Fujian, China
    Teen-Hang Meen, editor
    Pistacaway, New Jersey: IEEE, [2019]
    Online Bibliografie, Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
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  4. Detailansicht für Treffer 84 öffnen
    ICSEC 2019: the 23rd International Computer Science and Engineering Conference : Oct 30-Nov 1, 2019, Novotel Phuket Resort, Phuket, Thailand
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Pistacaway, New Jersey: IEEE, [2019]
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  5. Detailansicht für Treffer 85 öffnen
    LATS: 2019 IEEE Latin American Test Symposium : 11-13 March 2019, Santiago, Chile
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, New Jersey: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  6. Detailansicht für Treffer 86 öffnen
    Proceedings of the 2019 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE): 25 - 29 March 2019, Florence, Italy
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, New Jersey: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  7. Detailansicht für Treffer 87 öffnen
    2019 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS)
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, NJ: IEEE, 2019
    Online Bibliografie, Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  8. Detailansicht für Treffer 88 öffnen
    28th North Atlantic Test Workshop: May 13-15, 2019, Essex Resort & Spa, Essex, Vermont
    sponsored by Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, New Jersey: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  9. Detailansicht für Treffer 89 öffnen
    2019 Prognostics and System Health Management Conference: 2-5 May 2019, Paris, France
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, New Jersey: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  10. Detailansicht für Treffer 90 öffnen
    ICMTS: 2019 IEEE 32nd International Conference on Microelectronic Test Structures : March 18-21, Kitakyushu International Conference Center, Kitakyushu City, Fukuoka Prefecture, Japan
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, New Jersey: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  11. Detailansicht für Treffer 91 öffnen
    2019 4th International Conference on System Reliability and Safety (ICSRS 2019): November 20-22, 2019, Rome, Italy
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Piscataway, New Jersey: IEEE, [2019]
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  12. Detailansicht für Treffer 92 öffnen
    2019 3rd Conference on Vehicle Control and Intelligence (CVCI 2019): Hefei, China, 21 - 22 September 2019
    Institute of Electrical and Electronics Engineers
    Pistacaway, New Jersey: IEEE, [2019]
    Online Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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  13. Detailansicht für Treffer 93 öffnen
    2019 6th International Advanced Research Workshop on Transformers (ARWtr 2019): Cordoba, Spain, 7 - 9 October 2019
    Xose M. López-Fernández, editor
    Pistacaway, New Jersey: IEEE, [2019]
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  14. Detailansicht für Treffer 94 öffnen
    Proceedings of the 10th ACM SIGSOFT International Workshop on Automating TEST Case Design, Selection, and Evaluation
    Tanja E. J. Vos
    New York, N.Y.: Association for Computing Machinery, 2019
    Online Bibliografie, Konferenzschrift, Monographie, Elektronische Ressource
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    ACM Digital Library Complete [Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  15. Detailansicht für Treffer 95 öffnen
    Ninth International Symposium on Precision Mechanical Measurements: 18-21 October 2019, Chongqing, China
    Liandong Yu, editor
    Bellingham, Washington: SPIE, [2019]
    Online Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
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  16. Detailansicht für Treffer 96 öffnen
    AOPC 2019: space optics, telescopes, and instrumentation : 7-9 July 2019, Beijing, China
    Suijian Xue [and three others], editors
    Bellingham, Washington: SPIE, [2019]
    Online Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    SPIE Digital Library Proceedings [Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  17. Detailansicht für Treffer 97 öffnen
    Eleventh International Conference on Information Optics and Photonics (CIOP 2019): 6-9 August 2019, Xi'an, China
    Hannan Wang, editor
    Bellingham, Washington: SPIE, [2019]
    Online Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    SPIE Digital Library Proceedings [Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  18. Detailansicht für Treffer 98 öffnen
    Fiber Optic Sensing and Optical Communication: 22-24 May 2018, Beijing, China
    edited by Jie Zhang
    Bellingham, Washington: SPIE, 2018
    Online Bibliografie, Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    SPIE Digital Library Proceedings [Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  19. Detailansicht für Treffer 99 öffnen
    New Concepts in Solar and Thermal Radiation Conversion and Reliability
    edited by Jeremy Munday, [and many others]
    Bellingham, Washington: SPIE, 2018
    Online Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
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    SPIE Digital Library Proceedings [Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)
  20. Detailansicht für Treffer 100 öffnen
    Optical System Alignment, Tolerancing, and Verification XII
    edited by Jose M. Sasian and Richard N. Youngworth
    Bellingham, Washington: SPIE, 2018
    Online Konferenzschrift, Sammelwerk, Elektronische Ressource
    Zugriff:
    SPIE Digital Library Proceedings [Zugang für alle FH-Angehörigen] (Volltext)

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