Universal test system for boards hosting bPOL12V DC-DC converters

Stachon, Krzysztof ; Dissertori, Günther ; et al.

In: Journal of Instrumentation, 19 (4, 2024

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The ECAL Barrel and MTD Barrel Timing Layer subdetectors of CMS are approaching series production of electronic boards, including voltage conditioning PCBs: LVRs and PCCs respectively. 2448 LVRs and 864 PCCs will be installed during LS3 of the LHC. These boards are hosting radiation-tolerant bPOL12V ASICs which convert a broad input voltage range into required voltage levels for microelectronics between 1.2-2.5 V. Each card must be tested multiple times at various production stages to ensure its conformity. This contribution describes a methodology of testing bPOL12V conversion quality including the detection of instability regions at certain load levels. ; ISSN:1748-0221

Titel:	Universal test system for boards hosting bPOL12V DC-DC converters
Autor/in / Beteiligte Person:	Stachon, Krzysztof ; Dissertori, Günther ; Gadek, Tomasz ; Lustermann, Werner
Link:	http://hdl.handle.net/20.500.11850/670157 https://doi.org/20.500.11850/670157 https://doi.org/10.3929/ethz-b-000670157 https://doi.org/10.1088/1748-0221/19/04/C04032 Volltext
Zeitschrift:	Journal of Instrumentation, 19 (4, 2024
Veröffentlichung:	IOP Publishing, 2024
Medientyp:	academicJournal
DOI:	10.3929/ethz-b-000670157
Schlagwort:	Voltage distributions Modular electronics Radiation-hard electronics
Sonstiges:	Nachgewiesen in: BASE Sprachen: English Collection: ETH Zürich Research Collection Document Type: article in journal/newspaper File Description: application/application/pdf Language: English Rights: info:eu-repo/semantics/openAccess ; http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ ; Creative Commons Attribution 4.0 International

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