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    Test Device Design and Test Procedure for Non-destructive Characterization of Bi Phase Accumulation during Electromigration : 22nd Thermal and thermomechanical phenomena in electronic systems Conference, ITHERM
    Jois, Chetan ; Chou, Pei-en ; et al.
    In: ITHERM, Jg. 22 (2023), Heft 2, S. 990-994
    Konferenz
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    Frequently Asked Questions in the Interval Pressure Transient Test (IPTT) and What is Next with Deep Transient Test (DTT) : International Petroleum Technology Conference 2023
    Daungkaew, Saifon ; Gisolf, Adriaan ; et al.
    In: International petroleum technology conference, Jg. 4 (2023), S. 2357-2377
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    ATM: Black-box Test Case Minimization Based on Test Code Similarity and Evolutionary Search : 2023 IEEE/ACM 45th International Conference on Software Engineering (ICSE 2023)
    Pan, Rongqi ; Ghaleb, Taher A. ; et al.
    In: Proceedings... International Conference on Software Engineering, Jg. 45 (2023), Heft 3, S. 1700-1711
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Carving UI Tests to Generate API Tests and API Specification : 2023 IEEE/ACM 45th International Conference on Software Engineering (ICSE 2023)
    Yandrapally, Rahul ; Sinha, Saurabh ; et al.
    In: Proceedings... International Conference on Software Engineering, Jg. 45 (2023), Heft 3, S. 1971-1982
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Built-In Self-Test and Built-In Self-Repair Strategies Without Golden Signature for Computing in Memory : Design, Automation and Test in Europe (Conference)
    Tsai, Yu-Chih ; Ting, Wen-Chien ; et al.
    In: Proceedings, Jg. 2 (2023), S. 579-584
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Device-Aware Test for Back-Hopping Defects in STT-MRAMs : Design, Automation and Test in Europe (Conference)
    Yuan, Sicong ; Taouil, Mottaqiallah ; et al.
    In: Proceedings, Jg. 1 (2023), S. 342-347
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Countering Uncertainties in In-Memory-Computing Platforms with Statistical Training, Accuracy Compensation and Recursive Test : Design, Automation and Test in Europe (Conference)
    Eldebiky, Amro ; Zhang, Grace Li ; et al.
    In: Proceedings, Jg. 1 (2023), S. 15-20
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    A Summary of Test Results from a NASA Lift + Cruise eVTOL Crash Test : 79th Annual Vertical Flight Society Forum and Technology Display, FORUM 79
    Littell, J. ; Putnam, J.
    In: Annual forum proceedings, Jg. 79 (2023), Heft 5, S. 3436-3450
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
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    Long-Term Tests and Advanced Post-Test Characterizations of the Oxygen Electrode in Solid Oxide Electrolysis Cells : 18th International symposium on solid oxide fuel cells, SOFC-XVIII
    Celikbilek, O. ; Sassone, G. ; et al.
    In: ECS transactions, Jg. 111 (2023), Heft 6, S. 211-222
    Konferenz
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  10. Detailansicht für Treffer 10 öffnen
    Proving Properties of Operation Contracts with Test Scenarios : 17th International conference on tests and proofs, TAP 2023
    Gogolla, Martin ; Hamann, Lars
    In: Lecture notes in computer science, Jg. 14066 (2023), S. 97-107
    Konferenz
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  11. Detailansicht für Treffer 11 öffnen
    Symbolic Observation Graph-Based Generation of Test Paths : 17th International conference on tests and proofs, TAP 2023
    Klai, Kais ; Bennani, Mohamed Taha ; et al.
    In: Lecture notes in computer science, Jg. 14066 (2023), S. 127-148
    Konferenz
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  12. Detailansicht für Treffer 12 öffnen
    Anxiety, Test-Taking Aid, and Test Scores: Evidence from Economics Classes : 135th Annual meeting of the American Economic Association, AEA
    Cannonier, Colin ; Burke, Monica Galloway
    In: American economic review, Jg. 113 (2023), Heft 1, S. 519-523
    Konferenz
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  13. Detailansicht für Treffer 13 öffnen
    Application of Light Curtain Test Technology in Dynamic Deformation Test of Rotating Machinery Rotor : 23rd Conference on Pacific Basin Nuclear (PBNC)
    Xuan, Han ; Jianhua, Yi
    In: Springer proceedings in physics, Jg. 285 (2023), Heft 1, S. 88-95
    Konferenz
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  14. Detailansicht für Treffer 14 öffnen
    Abstracts of 31st Japan Bi-Digial O-Ring Test Medical Society : 31st Japan Bi-Digital O-Ring Test Medical Society
    In: Acupuncture & electro-therapeutics research, Jg. 48 (2023), Heft 1, S. 37-61
    Konferenz
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  15. Detailansicht für Treffer 15 öffnen
    The Storage Optimization of Test Cases and Test Results in Spacecraft Automatic Test Based on JSON : 8th International conference on signal and information processsing, networking and computers
    Song, Hongjiang ; Chu, Haiyang ; et al.
    In: Lecture notes in electrical engineering, Jg. 917 (2023), Heft 1, S. 498-507
    Konferenz
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  16. Detailansicht für Treffer 16 öffnen
    The Embedded Cooling Silicon 3D Stacking Thermal Test Vehicle : 22nd Thermal and thermomechanical phenomena in electronic systems Conference, ITHERM
    Zhao, Xiaoliang ; Shu, Penghuai ; et al.
    In: ITHERM, Jg. 22 (2023), Heft 1, S. 26-34
    Konferenz
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  17. Detailansicht für Treffer 17 öffnen
    A New Transfer-Learning-Based Method for Medical Laboratory Test Outcome Prediction to Address the Lack of Data Issue : Institute of Industrial & Systems Engineers Annual conference
    Wang, S. ; Jiang, Y. ; et al.
    In: Industrial and systems engineering conference, Jg. 1 (2023), S. 415-420
    Konferenz
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  18. Detailansicht für Treffer 18 öffnen
    Identification of Horizontal Auto-Correlation Parameters Using Inclined Cone Penetration Tests—Preliminary Results : Geo-Risk
    Tan, Yong-Keng ; Ching, Jianye
    In: Geotechnical special publication, Jg. 347 (2023), S. 139-144
    Konferenz
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  19. Detailansicht für Treffer 19 öffnen
    Generating Test Database for Database-Backed Applications : 2023 IEEE/ACM 45th International Conference on Software Engineering (ICSE 2023)
    Yan, Cong ; Nath, Suman ; et al.
    In: Proceedings... International Conference on Software Engineering, Jg. 45 (2023), Heft 4, S. 2048-2059
    Konferenz
    Wie komme ich dran?
  20. Detailansicht für Treffer 20 öffnen
    Doppelganger Test Generation for Revealing Bugs in Autonomous Driving Software : 2023 IEEE/ACM 45th International Conference on Software Engineering (ICSE 2023)
    Huai, Yuqi ; Chen, Yuntianyi ; et al.
    In: Proceedings... International Conference on Software Engineering, Jg. 45 (2023), Heft 4, S. 2591-2603
    Konferenz
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